发明名称 发光装置之光量补偿检查方法
摘要
申请公布号 TWI477404 申请公布日期 2015.03.21
申请号 TW101120760 申请日期 2012.06.08
申请人 日昌电子股份有限公司 发明人 吉田治信;张子良;彭柏雄
分类号 B41J2/447;B41J2/45;G06K15/12 主分类号 B41J2/447
代理机构 代理人 李文贤 新北市板桥区民生路1段33号17楼之3
主权项 一种发光装置之光量补偿检查方法,该发光装置包含复数发光元件,该光量补偿检查方法包含:逐一对该些发光元件执行下列步骤:量测该发光元件于一基准时间区间内输出的一原始光量;根据所测得的该原始光量与一基准光量产生对应该发光元件的一校正值;以及根据该校正值调整该发光元件的光输出,使该原始光量达到一目标光量。
地址 新北市新店区宝桥路235巷132号6楼