发明名称 Chemisch-mechanische Polierzusammensetzung mit geringer Defekterzeugung
摘要 <p>Es wird eine chemisch-mechanische Polierzusammensetzung mit geringer Defekterzeugung zum Polieren von Siliziumoxid-enthaltenden Substraten bereitgestellt, die als ursprüngliche Komponenten Wasser, ein kolloidales Siliziumoxid-Schleifmittel und ein Additiv gemäß der Formel I umfasst.</p>
申请公布号 DE102014013924(A1) 申请公布日期 2015.03.19
申请号 DE20141013924 申请日期 2014.09.18
申请人 ROHM AND HAAS ELECTRONIC MATERIALS CMP HOLDINGS, INC. 发明人 GUO, YI
分类号 C09K3/14;H01L21/304 主分类号 C09K3/14
代理机构 代理人
主权项
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