发明名称 Verfahren zum Kalibrieren einer Messanlage auf Streumessungsbasis, die zum Messen von Abmessungen von Strukturelementen auf einem Halbleiterbauelement verwendet wird
摘要 <p>Verfahren zum Kalibrieren einer Streumessanlage, wobei das Verfahren umfasst: Messen einer kritischen Abmessung mindestens eines Produktstrukturelements, das über einer Scheibe (31) ausgebildet ist, wobei die Streumessanlage (74) verwendet wird; Messen mindestens einer von mehreren Gitterstrukturen (60), die über der Scheibe (31) ausgebildet sind, wobei die Streumessanlage (74) verwendet wird und wobei die Gitterstrukturen (60) jeweils eine unterschiedliche kritische Abmessung aufweisen; und Bestimmen eines Korrekturfaktors auf der Grundlage der Messung einer der mindestens einen Gitterstruktur (60), wobei der Korrekturfaktor mit der gemessenen kritischen Abmessung des mindestens einen Produktstrukturelements zum Bestimmen der kritischen Abmessung des mindestens einen Produktstrukturelements multipliziert wird.</p>
申请公布号 DE10297676(B4) 申请公布日期 2015.03.19
申请号 DE2002197676 申请日期 2002.12.17
申请人 ADVANCED MICRO DEVICES, INC. 发明人 NARIMAN, HOMI E.
分类号 G01B11/02;H01L21/66;G01N21/47;G01R31/265 主分类号 G01B11/02
代理机构 代理人
主权项
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