发明名称 一种可调再加热双脉冲激光诱导击穿光谱装置
摘要 本实用新型公开了一种可调再加热双脉冲激光诱导击穿光谱装置,包括第一激光器、第二激光器、延时发生器和样品台;第一激光器的光路上布置有光路爬高系统,该光路爬高系统用于升高第一激光的光路,使得第一激光由样品台正上方聚焦到样品表面,产生等离子体;延时发生器用于控制第一激光器和第二激光器的触发时序;第二激光器的光路上布置有倍频发生器,穿过倍频发生器的第二激光用于再加热等离子体;还包括信号采集和处理系统,根据等离子体冷却发出的特征谱线和第一激光击打样品的空间信息,显示元素在样品表面的分布信息。本实用新型实现了双脉冲激光诱导击穿光谱再加热工作模式,为脆弱样本(如生物样本)元素含量检测信号增强提供了条件。
申请公布号 CN204214783U 申请公布日期 2015.03.18
申请号 CN201420688746.1 申请日期 2014.11.17
申请人 浙江大学 发明人 刘飞;彭继宇;何勇;张初;余克强;方慧
分类号 G01N21/71(2006.01)I 主分类号 G01N21/71(2006.01)I
代理机构 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人 胡红娟
主权项 一种可调再加热双脉冲激光诱导击穿光谱装置,其特征在于,包括第一激光器、第二激光器、延时发生器和样品台;所述第一激光器的光路上布置有光路爬高系统,该光路爬高系统用于升高第一激光的光路,使得第一激光由样品台正上方聚焦到样品表面,产生等离子体;所述的延时发生器用于控制第一激光器和第二激光器的触发时序;所述第二激光器的光路上布置有倍频发生器,穿过倍频发生器的第二激光用于再加热所述的等离子体;还包括信号采集和处理系统,根据等离子体冷却发出的特征谱线和第一激光击打样品的空间信息,显示元素在样品表面的分布信息。
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