发明名称 |
鳍式场效应晶体管及其形成方法、半导体器件 |
摘要 |
一种鳍式场效应晶体管及其形成方法、半导体器件,其中鳍式场效应晶体管的形成方法包括:提供基底,在所述基底上形成有伪栅极;在所述伪栅极两侧的基底中形成源极、漏极;在所述基底上形成层间介质层,所述层间介质层上表面与伪栅极上表面持平;去除所述伪栅极,在所述层间介质层中形成伪栅沟槽;对所述伪栅沟槽底部的基底部分进行图形化,在所述源极与漏极之间形成鳍部,所述鳍部两端分别连接源极、漏极;在所述伪栅沟槽中形成横跨鳍部的高K栅介质层和栅极。本技术方案为先形成伪栅极,再形成鳍部,避免形成伪栅极过程中的鳍部高度对栅极高度的影响,实现准确定位栅极高度,栅极高度与预定义高度基本相符,鳍式场效应晶体管中的信号传递可靠。 |
申请公布号 |
CN104425279A |
申请公布日期 |
2015.03.18 |
申请号 |
CN201310398738.3 |
申请日期 |
2013.09.04 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
张海洋;王冬江 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
骆苏华 |
主权项 |
一种鳍式场效应晶体管的形成方法,其特征在于,包括:提供基底,在所述基底上形成有伪栅极;在所述伪栅极两侧的基底中形成源极、漏极;在所述基底上形成层间介质层,所述层间介质层上表面与伪栅极上表面持平;去除所述伪栅极,在所述层间介质层中形成伪栅沟槽;对所述伪栅沟槽底部的基底部分进行图形化,在所述源极与漏极之间形成鳍部,所述鳍部两端分别连接源极、漏极;在所述伪栅沟槽中形成横跨所述鳍部的高K栅介质层和位于高K栅介质层上的栅极。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |