发明名称 |
一种基于铜线与铜框架键合的QFN封装件及其制作工艺 |
摘要 |
本发明公开了一种基于铜线与铜框架键合的QFN封装件及其制作工艺,所述封装件主要由半蚀刻框架、粘片胶、芯片、铜线、锡点、塑封体、涂覆层和锡球组成,所述芯片通过粘片胶与半蚀刻框架连接,铜线连接芯片和半蚀刻框架,所述铜线和半蚀刻框架的接点为第二焊点,锡点固定在第二焊点上。所述制作工艺主要工艺流程为:晶圆减薄——划片——上芯——压焊——第二焊点熔锡加固——塑封及后固化——框架背面二次蚀刻——框架背面涂覆——植球。这种工艺可以降低铜框架生产成本,极大的缩小封装成本。 |
申请公布号 |
CN104409367A |
申请公布日期 |
2015.03.11 |
申请号 |
CN201410564592.X |
申请日期 |
2014.10.21 |
申请人 |
华天科技(西安)有限公司 |
发明人 |
王虎;于大全;谌世广 |
分类号 |
H01L21/56(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/56(2006.01)I |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
一种基于铜线与铜框架键合的QFN封装件,其特征在于:所述封装件主要由半蚀刻框架(1)、粘片胶(2)、芯片(3)、铜线(4)、锡点(5)、塑封体(6)、涂覆层(7)和锡球(8)组成,所述芯片(3)通过粘片胶(2)与半蚀刻框架(1)连接,铜线(4)连接芯片(3)和半蚀刻框架(1),所述铜线(4)和半蚀刻框架(1)的接点为第二焊点,锡点(5)固定在第二焊点上,所述塑封体(6)包围了半蚀刻框架(1)、粘片胶(2)、芯片(3)、铜线(4)和锡点(5),所述涂覆层(7)覆盖在背面蚀刻后的半蚀刻框架(1)上,锡球(8)固定在半蚀刻框架(1)背面蚀刻后形成的引脚上。 |
地址 |
710018 陕西省西安市西安经济技术开发区凤城五路105号 |