| 发明名称 |
Verfahren zur Untersuchung von Mustern für Reifenprofile |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AT278405(B) |
申请公布日期 |
1970.01.26 |
| 申请号 |
AT19670008176 |
申请日期 |
1967.09.07 |
| 申请人 |
SEMPERIT OESTERREICHISCH-AMERIKANISCHE GUMMIWERKE AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
DIPL. ING. FRANZ PERNAU |
| 分类号 |
G01H3/00;(IPC1-7):G01M17/02 |
主分类号 |
G01H3/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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