发明名称 微波材料电磁参数的凹形腔检测装置及其自动检测方法
摘要 微波材料电磁参数的凹形腔检测装置及其自动检测方法,涉及一种材料电磁参数的检测。提供无损伤、精确、操作方便的一种微波材料电磁参数的凹形腔检测装置及其自动检测方法。所述微波材料电磁参数的凹形腔检测装置设有微波矢量网络分析仪、微波凹形腔传感器、输入同轴电缆、输出同轴电缆、GPIB数据采集卡和计算机。
申请公布号 CN103323677B 申请公布日期 2015.03.11
申请号 CN201310214174.3 申请日期 2013.05.31
申请人 厦门大学 发明人 肖芬;余明;阙永祥;江智渊;陈先言;刘星
分类号 G01R27/26(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I;G01R33/12(2006.01)I 主分类号 G01R27/26(2006.01)I
代理机构 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 代理人 马应森
主权项 微波材料电磁参数的凹形腔检测装置,其特征在于设有微波矢量网络分析仪、微波凹形腔传感器、输入同轴电缆、输出同轴电缆、GPIB数据采集卡和计算机;所述输入同轴电缆的输入端接微波矢量网络分析仪的微波信号输出端口,输入同轴电缆的输出端接微波凹形腔传感器的SMA输入端;输出同轴电缆的输入端接微波凹形腔传感器的SMA输出端,输出同轴电缆的输出端接微波矢量网络分析仪微波测试信号输入端口;GPIB数据采集卡输入端接微波矢量网络分析仪的数据输出端,GPIB数据采集卡输出端接计算机;所述微波凹形腔传感器设有上螺旋测微头、上圆盘、螺杆、上内导体、上短路板、销钉、紧固夹、圆波导、SMA连接头、下短路板、下内导体、下圆盘、下螺杆、下螺旋测微头、固定底座及紧固件;所述上螺旋测微头和下螺旋测微头的中心丝杆分别锁住上内导体和下内导体,上圆盘和下圆盘的圆心孔分别锁在上螺旋测微头和下螺旋测微头的外壳上;上圆盘的边缘通过上螺杆锁定上短路板,下圆盘的边缘通过下螺杆锁定下短路板;上短路板与圆波导将上短路板与圆波导上方固定;下短路板与圆波导下方锁定;上内导体穿过上短路板中心进入圆波导中心;下内导体穿过下短路板中心进入圆波导中心;2个SMA连接头左右对称锁定于圆波导段中心处,并分别与输入同轴电缆和输出同轴电缆连接;整个微波凹形腔传感器的主体通过紧固件固定在固定底座上。
地址 361005 福建省厦门市思明南路422号