发明名称 抵抗変化型不揮発性記憶装置およびその駆動方法
摘要 <p>安定した動作をすることができる信頼性の高い抵抗変化型不揮発性記憶装置および抵抗変化型不揮発性記憶装置の駆動方法を提供する。抵抗変化型不揮発性記憶装置(200)は、メモリセルアレイ(202)と、メモリセル選択回路(203、204)と、書き込み回路(205)と、読み出し回路(206)とを備え、書き込み回路(205)は、不良メモリセルと同一のビット線およびワード線の少なくともいずれかに配置されている不良メモリセル以外の他のメモリセルに対して、他のメモリセルの抵抗変化素子(30)を第1の低抵抗状態での抵抗値より大きい抵抗値を示す第2の高抵抗状態にするような第2の高抵抗化パルスを印加する。</p>
申请公布号 JPWO2013018281(A1) 申请公布日期 2015.03.05
申请号 JP20120538011 申请日期 2012.07.04
申请人 发明人
分类号 G11C13/00;G11C29/00;G11C29/12;G11C29/56 主分类号 G11C13/00
代理机构 代理人
主权项
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