发明名称 セラミック電子部品の製造方法
摘要 磁性体部の絶縁性を確保でき、また内部導体であるCuの酸化を抑制し、良好な電気特性を得ることができるセラミック電子部品を提供する。本発明に係るセラミック電子部品の製造方法は、所定の昇温速度X(℃/分)、および酸素分圧Y(Pa)で焼成する焼成工程を備え、昇温速度Xをx軸、酸素分圧Yをy軸として表したとき、(X,Y)がA(50,0.05)、B(1000,0.05)、C(1000,0.01)、D(1500,0.01)、E(1500,0.001)、F(2000,0.001)、G(2000,100)、H(1500,100)、I(1500,50)、J(1000,50)、K(1000,10)、L(50,10)で囲まれた領域で表される条件で焼成することを特徴とする。
申请公布号 JPWO2013021885(A1) 申请公布日期 2015.03.05
申请号 JP20130527985 申请日期 2012.08.01
申请人 株式会社村田製作所 发明人 野宮 裕子;山本 篤史
分类号 H01F41/04;H01F17/00;H01F17/04 主分类号 H01F41/04
代理机构 代理人
主权项
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