发明名称 半导体装置及其制造方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
摘要 本发明系将CNT使用在接触通孔的半导体装置,具备:基板,其系具有接触通孔用沟;CNT成长用的触媒层,其系形成于前述沟的底面;及CNT通孔,其系将复数根的CNT埋入至形成有前述触媒层的前述沟内而形成。;而且,前述CNT系使复数的石墨烯层自前述沟的深度方向倾斜的状态下层叠形成,且以前述石墨烯层的末端露出于侧壁的方式形成。并且,至少1种类的元素系从前述CNT的侧壁掺杂至该CNT中。
申请公布号 TW201508891 申请公布日期 2015.03.01
申请号 TW103107900 申请日期 2014.03.07
申请人 东芝股份有限公司 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 发明人 斎藤达朗 SAITO, TATSURO;和田真 WADA, MAKOTO;矶林厚伸 ISOBAYASHI, ATSUNOBU;梶田明広 KAJITA, AKIHIRO;宫崎久生 MIYAZAKI, HISAO;酒井忠司 SAKAI, TADASHI
分类号 H01L23/52(2006.01);H01L21/768(2006.01) 主分类号 H01L23/52(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本 JP