发明名称 |
频域位图中的密度迹线测量和触发 |
摘要 |
本发明涉及频域位图中的密度迹线测量和触发。通过测量在用户指定的“幅度阈值”之上的频域位图的每一列的密度,形成根据本发明的实施例的“密度迹线”。每一列的密度等于幅度阈值之上的列中的所有像素的密度总和除以列中的所有像素的密度总和。密度迹线提供了一种定义和代表许多列的占用率的方便方式,且还允许把密度数据快速地从一个仪器或计算机传送到另一仪器或计算机。在一些实施例中,密度迹线被结合到测试测量仪器的触发检测器中且用于产生触发信号。触发检测器将密度迹线与用户指定的“密度阈值”进行比较且在密度迹线的任何点的值违反密度阈值时产生触发信号。 |
申请公布号 |
CN102331524B |
申请公布日期 |
2015.02.25 |
申请号 |
CN201110122310.7 |
申请日期 |
2011.05.12 |
申请人 |
特克特朗尼克公司 |
发明人 |
K.A.恩格霍尔姆;A.K.小希尔曼;J.F.特平;D.H.埃比 |
分类号 |
G01R23/16(2006.01)I |
主分类号 |
G01R23/16(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
王岳;卢江 |
主权项 |
一种产生密度迹线的方法,包含以下步骤:数字化模拟信号以产生多个数字样本;将该多个数字样本变换成多个频谱;组合该多个频谱以产生位图数据库,其中该位图数据库包含以行和列的阵列布置的多个单元,且每个单元的值指示密度;以及计算具有多个点的密度迹线,其中每个点的值指示相关幅度阈值之上的位图数据库的一列或多列的密度。 |
地址 |
美国俄勒冈州 |