发明名称 炭化珪素半導体装置及び炭化珪素半導体装置の製造方法
摘要 <p>本発明は、ゲート電流を抑制しゲート信頼性を高めることができる炭化珪素半導体装置及びその製造方法の提供を目的とする。本発明にかかる炭化珪素半導体装置は、炭化珪素からなるドリフト層2と、ドリフト層2表層に選択的に形成されたベース領域3と、ベース領域3表層に選択的に形成されたソース領域と、ソース領域上に選択的に形成されたソース電極8と、ソース領域に跨って形成されたゲート絶縁膜6と、ゲート絶縁膜6上に形成されたゲート電極7とを備え、ソース領域は、ソース電極8下の第1ソース領域4と、第1ソース領域4を囲む第2ソース領域10とを有し、第2ソース領域10表層のドーピング濃度は、第1ソース領域4表層のドーピング濃度よりも低く、第2ソース領域10のドーピング濃度は、表層部よりも深層部が高い。</p>
申请公布号 JPWO2012172988(A1) 申请公布日期 2015.02.23
申请号 JP20130520500 申请日期 2012.05.31
申请人 发明人
分类号 H01L29/78;H01L21/336;H01L29/12 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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