METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECTS OF A FLAT SURFACE

摘要

Dargestellt ist ein Verfahren zum Erfassen von Defekten (2) einer ebenen Oberfläche (3) eines Produkts (4), insbesondere Metallprodukts. Um kleine und kleinste Defekte auf ebenen Oberflächen zuverlässiger erfassen und klassifizieren zu können wird ein Verfahren vorgeschlagen, bei dem ein zu untersuchender Oberflächenabschnitt (8) von einer Beleuchtungseinheit (6) beleuchtet wird, bei dem von dem zu untersuchenden Oberflächenabschnitt (8) mittels einer Kameraeinheit [5) wenigstens zwei Aufnahmen mit unterschiedlicher Belichtung erzeugt werden, während der zu untersuchende Oberflächenabschnitt (8) von der Beleuchtungseinheit (6) beleuchtet wird, bei dem wenigstens die mit unterschiedlicher Belichtung erzeugten Aufnahmen von dem zu untersuchenden Oberflächenabschnitt (8) an eine Bildverarbeitungseinheit übergeben werden und bei dem von der Bildverarbeitungseinheit durch Überlagerung wenigstens der mit unterschiedlicher Belichtung erzeugten Aufnahmen von dem zu untersuchenden Oberflächenabschnitt (8) ein Bild zur Erfassung von Defekten (2) erzeugt wird.