发明名称 光学测距装置及方法
摘要 对应于一种光学测距方法的光学测距装置包括第一测量杆,与被测目标间的距离为待测距离x;第二测量杆,与第一测量杆平行,两者间距为a并同时与被测目标处于一平面上,第一测量杆在第二测量杆与被测目标之间;两个挡板,都位于第一测量杆上并且位置均可沿着第一测量杆平移,作为第一挡板、第二挡板;狭缝,位于第二测量杆上并可沿着第二测量杆平移,当通过狭缝分别观察到被测目标关于第一挡板和第二挡板尺寸对称时,记录下第一挡板和第二挡板处于第二测量杆上的位置,这两个位置间的距离为y,第一挡板与第二挡板之间的距离为h,根据公式x=ah/(y-h)即可计算出待测距离。
申请公布号 CN103063191B 申请公布日期 2015.02.11
申请号 CN201210191621.3 申请日期 2012.06.12
申请人 上海理工大学 发明人 李湘宁;孙惠;薛登攀
分类号 G01C3/00(2006.01)I 主分类号 G01C3/00(2006.01)I
代理机构 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 代理人 郁旦蓉
主权项 一种光学测距装置,其特征在于,包括:第一测量杆,与被测目标之间的距离为待测距离;第二测量杆,与所述第一测量杆平行并与所述被测目标、所述第一测量杆三者处于同一平面上,所述第一测量杆处于该第二测量杆与所述被测目标之间;两个挡板,都位于所述第一测量杆上并且均可沿着所述第一测量杆平移,分别作为第一挡板、第二挡板,所述挡板的色彩明度与所述被测目标的色彩明度不一致;以及狭缝,位于所述第二测量杆上并可沿着所述第二测量杆平移,分别观察所述第一挡板和所述第二挡板挡住所述被测目标的位置,当观察到所述被测目标关于所述第一挡板尺寸对称时,记录此时狭缝处于所述第二测量杆上的位置为第一位置;当观察到所述被测目标关于所述第二挡板尺寸对称时,记录此时狭缝处于所述第二测量杆上的位置为第二位置,所述第一位置与所述第二位置之间的距离为y,所述第一挡板与所述第二挡板之间的距离为h,所述第一测量杆与所述第二测量杆之间的间距为a,所述待测距离为x,所述待测距离根据公式x=ah/(y‑h)即可计算出来。
地址 200093 上海市杨浦区军工路516号
您可能感兴趣的专利