发明名称 非穿通型绝缘栅双极晶体管的制造方法
摘要 本发明公开一种非穿通型绝缘栅双极晶体管的制造方法,包括如下步骤:在硅片正面形成绝缘栅双极晶体管结构至积淀完层间介质;在所述层间介质上覆盖保护膜;自所述硅片背面开始将所述硅片进行减薄处理,并在减薄后的硅片背面形成P型层;去掉所述保护膜,并对所述硅片进行退火处理;其中退火温度大于500摄氏度;在所述P型层和层间介质表面形成金属层。上述方法中,由于是在金属层形成之前进行P型层的退火处理,因此P型层的退火处理温度不会受到金属熔化温度的限制,可以采用较高的温度进行退火处理,从而形成的NPT IGBT的性能更高。同时,该方法也与传统工艺兼容,因此效率较高。
申请公布号 CN104347400A 申请公布日期 2015.02.11
申请号 CN201310321483.0 申请日期 2013.07.26
申请人 无锡华润上华半导体有限公司 发明人 王根毅;邓小社;钟圣荣;周东飞
分类号 H01L21/331(2006.01)I;H01L21/265(2006.01)I 主分类号 H01L21/331(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 邓云鹏
主权项 一种非穿通型绝缘栅双极晶体管的制造方法,包括如下步骤:在硅片正面形成绝缘栅双极晶体管结构至积淀完层间介质;在所述层间介质上覆盖保护膜;自所述硅片背面开始将所述硅片进行减薄处理,并在减薄后的硅片背面形成P型层;去掉所述保护膜,并对所述硅片进行退火处理;其中退火温度大于500摄氏度;在所述P型层和层间介质表面形成金属层。
地址 214028 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区新洲路8号
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