发明名称 系统级IC测试机台全自动重测方法及该测试机台
摘要
申请公布号 TWI472778 申请公布日期 2015.02.11
申请号 TW102131279 申请日期 2013.08.30
申请人 致茂电子股份有限公司 发明人 许良宇;欧阳勤一
分类号 G01R31/01;G01R31/26 主分类号 G01R31/01
代理机构 代理人 丁国隆 台北市大安区敦化南路2段77号8楼;黄政诚 台北市大安区敦化南路2段77号8楼
主权项 一种系统级IC测试机台全自动检测方法,其中该系统级IC测试机台包括一个处理装置、一组入/出料装置、及多组检测装置,每一组前述检测装置是供独立检测一个待测的IC,且每一组前述检测装置都具有一个检测通过率,该全自动检测方法包括下列步骤:a)每一前述检测装置个别测试上述待测的IC,并将每一前述IC测试完毕的结果传至该处理装置;b)由该处理装置依上述测试结果,判断上述各测试完毕的IC是否到达该检测装置的该检测通过率之通过门槛;c)由该处理装置依照一个预定规则,将未达到上述通过门槛的IC,重新送入上述多个检测装置之中,符合前述预定规则的前述检测装置,重测上述未到达该通过门槛的IC;前述预定规则是依照上述各组检测装置的检测通过率所制订,并排除测试上述未达到通过门槛的IC之上述检测装置;及d)确认上述未达通过门槛的IC的重测结果是否达到上述通过门槛。
地址 桃园市龟山区华亚科技园区华亚一路66号