发明名称 | 系统级IC测试机台全自动重测方法及该测试机台 | ||
摘要 | |||
申请公布号 | TWI472778 | 申请公布日期 | 2015.02.11 |
申请号 | TW102131279 | 申请日期 | 2013.08.30 |
申请人 | 致茂电子股份有限公司 | 发明人 | 许良宇;欧阳勤一 |
分类号 | G01R31/01;G01R31/26 | 主分类号 | G01R31/01 |
代理机构 | 代理人 | 丁国隆 台北市大安区敦化南路2段77号8楼;黄政诚 台北市大安区敦化南路2段77号8楼 | |
主权项 | 一种系统级IC测试机台全自动检测方法,其中该系统级IC测试机台包括一个处理装置、一组入/出料装置、及多组检测装置,每一组前述检测装置是供独立检测一个待测的IC,且每一组前述检测装置都具有一个检测通过率,该全自动检测方法包括下列步骤:a)每一前述检测装置个别测试上述待测的IC,并将每一前述IC测试完毕的结果传至该处理装置;b)由该处理装置依上述测试结果,判断上述各测试完毕的IC是否到达该检测装置的该检测通过率之通过门槛;c)由该处理装置依照一个预定规则,将未达到上述通过门槛的IC,重新送入上述多个检测装置之中,符合前述预定规则的前述检测装置,重测上述未到达该通过门槛的IC;前述预定规则是依照上述各组检测装置的检测通过率所制订,并排除测试上述未达到通过门槛的IC之上述检测装置;及d)确认上述未达通过门槛的IC的重测结果是否达到上述通过门槛。 | ||
地址 | 桃园市龟山区华亚科技园区华亚一路66号 |