发明名称 用于电子器件的测试装置
摘要
申请公布号 TWI473201 申请公布日期 2015.02.11
申请号 TW100112122 申请日期 2011.04.08
申请人 先进自动器材有限公司 发明人 史泽棠;蔡培伟;陈天宜;司徒伟康;卓佐宪
分类号 H01L21/683;H01L21/677 主分类号 H01L21/683
代理机构 代理人 邱昱宇 台北市大安区信义路3段202号7楼之4
主权项 一种晶圆处理装置,其包含有:第一夹持器和第二夹持器,其可移动地装配于转轴上,第一夹持器和第二夹持器中每一个被设置来固定其上装配有晶圆的晶圆载体;以及夹持狭长部,其位于第一夹持器和第二夹持器中的每一个上,该夹持狭长部被用来夹持在晶圆载体上以固定晶圆载体;其中,第一夹持器和第二夹持器被用来在装载位置和晶圆处理位置之间相互反方向地移动晶圆载体,以处理晶圆。
地址 香港