发明名称 |
光学构件的检查方法、光学产品的制造方法以及光学构件的检查装置 |
摘要 |
本发明提供光学构件的检查方法、光学产品的制造方法以及光学构件的检查装置。将光学构件作为被检查物向具有光源部和拍摄部的检查装置供给,使上述光学构件通过特定配置后的上述光源部与上述拍摄部之间而进行该光学构件的检查。 |
申请公布号 |
CN104345062A |
申请公布日期 |
2015.02.11 |
申请号 |
CN201410384065.0 |
申请日期 |
2014.08.06 |
申请人 |
日东电工株式会社 |
发明人 |
田村透;古泽修也 |
分类号 |
G01N21/89(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/89(2006.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇;张会华 |
主权项 |
一种光学构件的检查方法,在该检查方法中,将片状的光学构件作为被检查物向具有光源部和拍摄部的检查装置供给,一边使上述光学构件通过上述光源部与上述拍摄部之间,一边自上述光源部向该光学构件的一面侧照射光且自上述光学构件的另一面侧利用上述拍摄部对上述光学构件的被该光照射的部位进行拍摄而检测上述光学构件的缺陷,其特征在于,使上述光学构件以水平状态或相对于水平方向倾斜的状态通过上述光源部与上述拍摄部之间,并且,使上述光源部和上述拍摄部中的位于上述光学构件的上侧的一者位于比光学构件的上述拍摄部所拍摄的拍摄部位的正上方靠该光学构件的移动方向上游侧的位置,而实施上述缺陷的检测。 |
地址 |
日本大阪府 |