发明名称 |
一种日光温室抗风指标确定方法 |
摘要 |
本发明公开了一种日光温室抗风指标确定方法,属于农业信息处理的技术领域。本发明通过在不同风向角的情况下,对在日光温室模型上分布的测压点做压力分布试验,测得各个测压点在不同风向角时的风压系数;再根据日光温室模型易受损的程度划分日光温室表面区域,进而计算出日光温室表面各个区域在不同风向角的情况下的临界风速。利用本发明所述的抗风指标确定方法,不需要考虑日光温室类型以及覆盖材料的影响;通过在划分区域内分别计算临界风速,先确定划分区域的临界风速,在确定整个日光温室的抗风指标,细化了抗风指标。 |
申请公布号 |
CN102914415B |
申请公布日期 |
2015.02.04 |
申请号 |
CN201210403090.X |
申请日期 |
2012.10.22 |
申请人 |
南京信息工程大学 |
发明人 |
杨再强;李永秀;江晓东;朱永生 |
分类号 |
G01M9/00(2006.01)I;G01M9/02(2006.01)I;G01M9/08(2006.01)I |
主分类号 |
G01M9/00(2006.01)I |
代理机构 |
南京经纬专利商标代理有限公司 32200 |
代理人 |
许方 |
主权项 |
一种日光温室抗风指标确定方法,其特征在于包括如下步骤:步骤1,选择抗风试验的风洞;步骤2,根据底层建筑与风洞尺寸的比例,确定日光温室模型的尺寸;步骤3,在日光温室模型顶部表面设置测压点阵列;步骤4,对日光温室模型顶部表面在不同风向角情况下做压力分布试验得到日光温室模型上第i测压点的静压P<sub>i</sub>、参考点风速管处的静压值P<sub>∞</sub>、参考点风速管处的总压值P<sub>0</sub>,由以下表达式求得第i测压点在不同风向角时的风压系数C<sub>Pi</sub>:<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><msub><mi>C</mi><mi>Pi</mi></msub><mo>=</mo><mfrac><mrow><msub><mi>P</mi><mi>i</mi></msub><mo>-</mo><msub><mi>P</mi><mo>∞</mo></msub></mrow><mrow><msub><mi>P</mi><mn>0</mn></msub><mo>-</mo><msub><mi>P</mi><mo>∞</mo></msub></mrow></mfrac><mo>;</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0000581688310000011.GIF" wi="315" he="127" /></maths>步骤5,给日光温室模型顶部表面划分区域,由步骤4测得的各测压点在不同风向角时的风压系数以及日光温室模型顶部表面负载计算临界风速,具体由表达式W<sub>i</sub>=0.625C<sub>Pi</sub>v<sup>2</sup>确定临界风速v,W<sub>i</sub>为测压点实际压力,C<sub>Pi</sub>为第i测压点在不同风向角时的风压系数;步骤6,以日光温室顶部表面不同区域临界风速中的最小值为日光温室日抗风指标。 |
地址 |
210019 江苏省南京市奥体大街69号 |