发明名称 微电子装置及制造方法、微机电封装结构及封装方法
摘要 本发明是有关于一种微电子装置及制造方法、微机电封装结构及封装方法,其中该微电子装置的制造方法,其先在基底的CMOS电路区内形成半导体元件,接着在基底上形成多层金属层、多个接触窗、多层氧化层与第一保护层,其中第一保护层位于至少一层氧化层上,且这些金属层与氧化层交错层叠,而接触窗形成于氧化层内,并连接至对应的金属层,以于基底的微机电区上构成微机电结构,并于CMOS电路区上构成内连线结构。然后,在内连线结构上形成第二保护层。之后,移除微机电区上的部分氧化层,以使微机电结构部份地悬于基底上方。由于CMOS电路与微机电元件可整合至同一工艺中完成,因此可降低微电子装置的生产成本。另外,本发明还提供一种微电子装置与微机电封装结构及其封装方法。
申请公布号 CN104326436A 申请公布日期 2015.02.04
申请号 CN201410429767.6 申请日期 2009.09.02
申请人 原相科技股份有限公司 发明人 徐新惠;李昇达;王传蔚
分类号 B81B7/00(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I 主分类号 B81B7/00(2006.01)I
代理机构 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 代理人 杨波
主权项 一种微电子装置,其特征在于其包括:一基底,具有一CMOS电路区与一微机电区;至少一半导体元件,配置于该基底的该CMOS电路区内;一抗金属离子层,配置于该基底的该CMOS电路区上而覆盖该半导体元件;一非掺杂氧化层,配置于该基底的该微机电区上;以及一微机电结构,部分地悬于该非掺杂氧化层上方。
地址 中国台湾科学工业园区新竹县宝山乡创新一路5号5楼