发明名称 测量装置
摘要
申请公布号 TWI471523 申请公布日期 2015.02.01
申请号 TW100147007 申请日期 2011.12.19
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 发明人 易文明;胡从旭;刘小利;刘玉林
分类号 G01B5/02 主分类号 G01B5/02
代理机构 代理人
主权项 一种测量装置,包括有支架及滑动架,所述支架及滑动架设有用以测量高度之刻度线,所述滑动架滑动固定于所述支架中,所述测量装置还包括有固定结构及驱动结构,所述固定结构包括有固定件及设于所述固定件上之弹性件,所述驱动结构包括有把手及固定于所述把手上之齿轮,所述驱动结构转动固定于所述支架上,所述齿轮于相对所述支架转动之过程中驱使所述滑动架相对所述支架滑动,所述固定件固定于所述支架上,所述弹性件固定于所述支架与所述滑动架之间,防止所述滑动架相对所述支架滑动,所述支架包括有底座、顶板、后板及两相对之第一侧板及第二侧板,所述顶板、所述后板、所述第一侧板及所述第二侧板形成供所述滑动架滑动之滑动空间,所述滑动架包括有顶壁、后壁、与所述后壁相对之前壁、及两相对之第一侧壁及第二侧壁,所述第一侧壁朝向所述第一侧板,所述第二侧壁朝向所述第二侧板,所述后壁朝向所述后板,所述顶板设有供所述滑动架插入所述滑动空间及供所述滑动架滑动之开口。
地址 新北市土城区自由街2号