发明名称 | 试样分析元件以及检测装置 | ||
摘要 | 提供既能够提高热点的表面密度又能够使传播表面等离子体共振与局域表面等离子体共振结合的试样分析元件。试样分析元件11具备多列金属纳米体列16。每个金属纳米体列16包含以小于入射光的波长的第一节距SP在电介质表面排列成一列的多个金属纳米体15。多列金属纳米体列16以大于第一节距SP的第二节距LP并排排列。 | ||
申请公布号 | CN104321639A | 申请公布日期 | 2015.01.28 |
申请号 | CN201380020394.0 | 申请日期 | 2013.04.12 |
申请人 | 精工爱普生株式会社 | 发明人 | 杉本守;尼子淳;西田秀明 |
分类号 | G01N21/65(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/65(2006.01)I |
代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 余刚;吴孟秋 |
主权项 | 一种试样分析元件,其特征在于,在电介质表面具备多列金属纳米体列,所述金属纳米体列包含以小于入射光的波长的第一节距排列成一列的多个金属纳米体,所述多列金属纳米体列以大于所述第一节距的第二节距并排排列。 | ||
地址 | 日本东京 |