发明名称 |
一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法及装置 |
摘要 |
本发明公开一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法及装置,其中校正方法包括计算第m列所有光谱通道中心波长与无偏离中心波长λ<sub>j</sub>之间的欧氏距离,选择距离最小的位置点s及中心波长为λ<sub>m,s</sub>,在相邻的光谱通道上选择与s相邻的位置点及中心波长;计算s对应的中心波长λ<sub>m,s</sub>与无偏离中心波长λ<sub>j</sub>之间的欧氏距离,以及相邻位置点对应的中心波长与无偏离中心波长λ<sub>j</sub>之间的欧氏距离;根据上述距离计算结果计算s对应的中心波长λ<sub>m,s</sub>的反距离权重值,以及相邻位置点对应的中心波长的反距离权重值;根据上述反距离权重值计算结果计算第m列对应无偏离中心波长λ<sub>j</sub>的光谱辐射能量值。采用反距离权重法进行谱线弯曲校正,可以提高校正光谱的精度,算法简单,计算速度快。 |
申请公布号 |
CN104316183A |
申请公布日期 |
2015.01.28 |
申请号 |
CN201410648131.0 |
申请日期 |
2014.11.15 |
申请人 |
中国科学院光电研究院 |
发明人 |
景娟娟;周锦松;张雪静;李雅灿;曾晓茹 |
分类号 |
G01J3/28(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01J3/28(2006.01)I |
代理机构 |
北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 |
代理人 |
郑立明;郑哲 |
主权项 |
一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法,其特征在于,包括:计算第m列所有光谱通道中心波长与无偏离中心波长λ<sub>j</sub>之间的欧氏距离,选择距离最小的位置点s以及所述位置点对应的中心波长为λ<sub>m,s</sub>,在相邻的光谱通道上,选择与所述位置点s相邻的位置点以及所述相邻的位置点对应的中心波长,其中,m取值为1~N,j取值为1~M,M为穿轨方向的像素个数,N为沿轨方向的像素个数;计算所述位置点s对应的中心波长λ<sub>m,s</sub>与无偏离中心波长λ<sub>j</sub>之间的欧氏距离,以及所述相邻的位置点对应的中心波长与无偏离中心波长λ<sub>j</sub>之间的欧氏距离;根据上述距离计算结果计算所述位置点s对应的中心波长λ<sub>m,s</sub>的反距离权重值,以及所述相邻的位置点对应的中心波长的反距离权重值;根据上述反距离权重值计算结果计算所述第m列对应所述无偏离中心波长λ<sub>j</sub>的光谱辐射能量值。 |
地址 |
100080 北京市海淀区中关村东路95号 |