| 发明名称 | 毫米波检查设备的辐射计温度校准装置及其校准方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，包括：常温校准机构，所述常温校准机构的校准温度等于当前环境温度，用于校准辐射计的初值；和高温校准机构，所述高温校准机构的校准温度高于当前环境温度，用于与常温校准机构一起校准辐射计的增益。与现有技术相比，在本发明的上述各个实施例中，由于为辐射计设置了专门的高低温校准装置，因此能够对辐射计的初值和增益实时地校准，从而避免了环境温度变化和辐射计自身温度变化所带来的不利影响，从而提高了辐射计的检测精度。 | ||
| 申请公布号 | CN104316910A | 申请公布日期 | 2015.01.28 |
| 申请号 | CN201410534830.2 | 申请日期 | 2010.06.30 |
| 申请人 | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 | 发明人 | 陈志强;李元景;赵自然;刘以农;吴万龙;张丽;林东;沈宗俊;罗希雷;郑志敏;桑斌;曹硕;金颖康 |
| 分类号 | G01S7/40(2006.01)I | 主分类号 | G01S7/40(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 王鹏鑫 |
| 主权项 | 一种毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，包括：常温校准机构，所述常温校准机构的校准温度等于当前环境温度，用于校准辐射计的初值；和高温校准机构，所述高温校准机构的校准温度高于当前环境温度，用于与常温校准机构一起校准辐射计的增益。 | ||
| 地址 | 100084 北京市海淀区清华园1号 | ||