| 摘要 |
Ein Spektrometer enthält eine Lichtquelle, ein Interferometer, ein Zubehörfach, eine Probenanalyseeinrichtung, ein erstes und ein zweites optisches Element und einen Aktuator. Die Lichtquelle überträgt Licht zum Interferometer, der moduliertes Licht bildet. Das Zubehörfach nimmt eine Probenanalyse-Zubehöreinrichtung auf und enthält eine erste Wand mit einem ersten Lichtport. Die Zubehöranalyseeinrichtung führt eine Analyse der abgeschwächten Totalreflexion einer Probe durch und enthält einen Kristall, eine Spitze, die konfiguriert ist zum Drücken der Probe gegen den Kristall; und einen Detektor, der konfiguriert ist zum Detektieren von Licht nach der Reflexion innerhalb des Kristalls. Das erste optische Element empfängt und reflektiert das modulierte Licht zum ersten Lichtport. Der Aktuator bewegt das zweite optische Element zwischen einer ersten Position, in der das zweite optische Element das modulierte Licht empfängt und das modulierte Licht zum Kristall reflektiert, und einer zweiten Position, in der das zweite optische Element das modulierte Licht nicht empfängt und gestattet, dass das erste optische Element das modulierte Licht empfängt. |
