发明名称 一种GaN基发光二极管的外延片及其制备方法
摘要 本发明公开了一种GaN基发光二极管的外延片及其制备方法,属于发光二极管领域。所述方法包括提供一衬底;在衬底上依次生长缓冲层和N型层,在N型层上依次生长N型电流扩展层、多量子阱层和P型层,N型电流扩展层为采用delta掺杂技术生长的GaN层,N型电流扩展层的的掺杂浓度低于N型层的掺杂浓度,从N型层一侧开始,N型电流扩展层的掺杂浓度保持不变或逐渐降低,且紧邻多量子阱层一侧的N型电流扩展层的掺杂浓度为零。本发明通过采用delta掺杂技术生长电流扩展层,载流子浓度高、补偿少、器件热稳定性能好,且靠近有源区引入无掺杂的GaN层,保证电流的横向扩展,降低正向压降,提高使用寿命,降低由掺杂产生的缺陷向有源区延伸和非辐射复合中心。
申请公布号 CN104300064A 申请公布日期 2015.01.21
申请号 CN201410529575.2 申请日期 2014.10.10
申请人 华灿光电(苏州)有限公司 发明人 李昱桦;乔楠;韩杰;胡加辉;魏世祯
分类号 H01L33/32(2010.01)I;H01L33/06(2010.01)I 主分类号 H01L33/32(2010.01)I
代理机构 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人 徐立
主权项 一种GaN基发光二极管的外延片,所述外延片包括衬底、生长在所述衬底上的缓冲层、N型层、多量子阱层和P型层,其特征在于,所述外延片还包括生长在所述N型层和所述多量子阱层之间的N型电流扩展层,所述N型电流扩展层为采用delta掺杂技术生长的GaN层,所述N型电流扩展层的掺杂浓度低于所述N型层的掺杂浓度,从所述N型层一侧开始,所述N型电流扩展层的掺杂浓度保持不变或者所述N型电流扩展层的掺杂浓度逐渐降低,且紧邻所述多量子阱层一侧的所述N型电流扩展层的掺杂浓度为零。
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