发明名称 一种光谱二向性测量系统
摘要 本发明属于光学领域,具体涉及一种光谱二向性测量系统。该系统包括稳压电源、平行光源、移动平台、旋转龙骨、链接件、探头标尺和样品旋转夹持框。该系统能精确测量岩石反射光谱各向异性,配合地面光谱可以在暗室中使用;除能够测量样品反射光谱外,还可测量在不同方向光线照射下,样品在任意方向的反射光谱。系统构思巧妙,结构简单;该系统不仅能测量截面直径小于12cm物体的反射率,而且可以测量任意入射-反射方向条件下物体的反射光谱。
申请公布号 CN104296873A 申请公布日期 2015.01.21
申请号 CN201410532946.2 申请日期 2014.10.10
申请人 核工业北京地质研究院 发明人 潘蔚;唐义;尹力;钟生东;闫吉庆;田青林;张学彬;南一冰;朱庆炜;崔璐
分类号 G01J3/42(2006.01)I;G01N21/25(2006.01)I 主分类号 G01J3/42(2006.01)I
代理机构 核工业专利中心 11007 代理人 高尚梅
主权项 一种光谱二向性测量系统,包括稳压电源(1)和平行光源(2),稳压电源(1)为平行光源(2)供电,平行光源(2)出射光照射待测样品,其特征在于:还包括可移动平台(3)、旋转龙骨(4)、探头标尺(6)和样品旋转夹持框(7);其中,稳压电源(1)为平行光源(2)提供强度可调的电流;旋转龙骨(4)包括水平设置在可移动平台(3)上方、能够进行水平旋转的圆盘,和垂直于可移动平台(3)的半圆;用于固定光谱仪光纤探头的探头标尺(6)能够沿旋转龙骨(4)的半圆移动,并通过调整探头标尺(6)的位置调整光谱仪光纤探头与样品旋转夹持框(7)之间的距离;样品旋转夹持框(7)夹持待测样品,其位于平行光源(2)发射的光线与探头标尺(6)所固定的光谱仪光纤探头延长线交点所在平面内,且旋转夹持框(7)固定在可移动平台(3)上,旋转夹持框(7)能够进行俯仰方向、水平方向的旋转。
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