一种用于SDRAM芯片检测的连接基座

摘要

本实用新型涉及一种用于SDRAM芯片检测的连接基座，包括顶座、底座、以及连接顶座与底座的弹簧，顶座设有定位条，底座设有与定位条配合的定位槽，底座底部为带插置孔的底板，底板的插置孔上固定插有PIN针，底板上方设有活动板，活动板穿过PIN针，PIN针穿过活动板，活动板与底板之间设有压簧，活动板通过导杆与顶座连接，活动板上方固定设有栅板，栅板上设置有栅条，底座上还设置有夹紧机构，顶座上设置有与夹紧机构配合的触动块，PIN针按15×6阵列进行排列，PIN针包括上部两对称的短凹弧，中部两对称的长凹弧，以及底部的引针，位于同侧的短凹弧与长凹弧相接，两长凹弧的末端相接后连接引针，引针固定于底板的插置孔中。

主权项

一种用于SDRAM芯片检测的连接基座，包括：顶座、底座、以及用于连接顶座与底座的弹簧，弹簧的两端分别固定的顶座与底座上，所述顶座设置有定位条，底座设置有与定位条配合的定位槽，底座底部为一带插置孔的底板，底板的插置孔上固定插置有PIN针；其特征在于：底板上方设有一活动板，所述活动板穿过PIN针，活动板与底板之间设有压簧，活动板通过导杆与顶座连接，活动板上方固定设有一栅板，栅板上设置有栅条，所述底座上还设置有夹紧机构，顶座上设置有与夹紧机构相配合的触动块，所述PIN针共15行6列，并按15×6阵列进行排列，PIN针的行间距为0.8mm，PIN针第一列与第二列之间的间距、第二列与第三列之间的间距、第四列与第五列之间的间距、第五列与第六列之间的间距均为0.8mm，第三列与第四列之间的间距为3.2mm，所述PIN针包括：上部两对称的短凹弧，中部两对称的长凹弧，以及底部的引针，位于同侧的短凹弧与长凹弧相接，两长凹弧的末端相接后连接引针，所述引针固定于底板的插置孔中。