| 摘要 |
提供一种晶片电子零件的检査分选装置，能防止不适合晶片电子零件混入晶片电子零件容纳容器，且晶片电子零件容纳容器之取出亦容易。;一种晶片电子零件的检査分选装置，属于对晶片电子零件保持板(24)所具备之多数个透孔(23)中容纳的晶片电子零件之电气特性进行检査分选，并容纳于上面开口的至少二个晶片电子零件容纳容器(34)内之装置，在与从上述保持板(24)的透孔(23)排出之晶片电子零件的排出通路(37)连接之晶片电子零件排出通路支撑构造体(39a)，系具备加压气体逃逸通路(41)，其使透过排出通路(37)而送入容器(34)之加压气体的至少一部分逃逸；又，容器(34)系被升降手段(42)所支撑，该升降手段(42)可调节该容器(34)的开口面(33)与支撑构造体(39a)的下侧表面(43a)之间的间隔。 |
