发明名称 |
一种光谱带宽测量方法和装置 |
摘要 |
本发明提供一种光谱带宽测量方法和装置。本发明的方法包括,S1,单色仪输出波长为λ的单色光;S2,成像光谱仪的探测器上接受波长为λ的单色光的光斑,读取光斑位置上第一像元的光强;S3,单色仪改变输出波长,输出多个波长间隔为Δλ的单色光;通过第二像元和/或第一像元上的光强变化量,计算得出单色光的分布曲线上的n个强度取样点;S4,由n个强度取样点拟合出整个单色光光斑的强度分布,并得出光谱带宽。本发明的测量方法采取波长变化的一组单色光来测量光谱带宽,测量精度和输入单色光的波长间隔有关,波长间隔越小,测得的光谱带宽精度越高。相较于现有的方法,大大提高了光谱带宽的测量精度。 |
申请公布号 |
CN104280120A |
申请公布日期 |
2015.01.14 |
申请号 |
CN201410555278.5 |
申请日期 |
2014.10.20 |
申请人 |
北京空间机电研究所 |
发明人 |
杜国军;李永强;廖志波;郝言慧;王向东 |
分类号 |
G01J3/28(2006.01)I;G01J3/12(2006.01)I |
主分类号 |
G01J3/28(2006.01)I |
代理机构 |
中国航天科技专利中心 11009 |
代理人 |
安丽 |
主权项 |
一种光谱带宽测量方法,其特征在于,包括,S1,单色仪(11)输出波长为λ的单色光;S2,成像光谱仪(13)的探测器上接受所述波长为λ的单色光的光斑,读取所述光斑上的第一像元上的光强;S3,单色仪(12)改变输出波长,输出n个波长间隔为Δλ的单色光;读取所述光斑上第一像元和/或第二像元上的光强;通过所述第二像元和/或所述第一像元上的光强变化量,计算得出所述单色光的分布曲线上的n个强度取样点;其中,n为1以上的自然数;S4,由n个强度取样点拟合出单色光光斑的强度分布,并得出成像光谱仪(13)的光谱带宽。 |
地址 |
100076 北京市丰台区南大红门路1号9201信箱5分箱 |