发明名称 一种带三角槽的SOI-LDMOS高压功率器件
摘要 本实用新型公开了一种带三角槽的SOI—LDMOS高压功率器件。本实用新型争对现有技术SOI—LDMOS器件关断时,漏极电压将在埋氧层下方诱导出电子反型层,它会阻止等势线穿过埋氧层,导致击穿过早发生在硅层,纵向耐压难以提高的问题,公开了一种带三角槽的SOI—LDMOS高压功率器件。其主要是通过在漂移区下方的埋氧层上蚀刻出的三角形沟槽;这样在漂移区下方,就存在一个埋氧层斜面,它可以束缚带正电的空穴,形成高浓度的正面电荷,这些电荷大大提高了器件纵向耐压。而且,器件漂移区厚度从源到漏线性增加,根据RESURF(降低表面电场)原理,横向电场因受到调制而变得均匀,有利于提高横向耐压和抑制比导通电阻的快速增加。
申请公布号 CN204102908U 申请公布日期 2015.01.14
申请号 CN201420590925.1 申请日期 2014.10.13
申请人 西华大学 发明人 阳小明;李天倩;卿朝进;蔡育
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 代理人 董芙蓉
主权项 一种带三角槽的SOI‑LDMOS高压功率器件,其主要包括:衬底电极、纵向由下而上的P型衬底、漂移区、源电极、漏电极、栅电极、绝缘SiO<sub>2</sub>层和空穴层;其中所述的绝缘SiO<sub>2</sub>层常称为埋氧层,所述的漂移区横向两端分别形成了n<sup>+</sup>源区和n<sup>+</sup>漏区,在n<sup>+</sup>源区的边上是p体区;所述的埋氧层上蚀刻出了一个三角形沟槽,如此在漂移区下方就存在一个埋氧层斜面,所述的空穴层就在这个埋氧层斜面上。 
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