| 摘要 |
<p>Ein Halbleiter-Chip mit einer Schaltung mit integriertem Selbsttest, die einen ersten Analog-Digital-Wandler (A/D-Wandler) aufweist, der so konfiguriert ist, dass er ein an seinem Eingang empfangenes analoges Eingangsspannungssignal in ein digitales Ausgangsspannungssignal umwandelt, das den ersten A/D-Wandler charakterisiert; und einen zweiten A/D-Wandler, der mit dem Eingang des ersten A/D-Wandlers gekoppelt ist und so konfiguriert ist, dass er das an seinem Eingang empfangene analoge Eingangsspannungssignal in ein digitales Rückkopplungsspannungssignal umwandelt, wobei das analoge Eingangsspannungssignal auf der Grundlage des digitalen Rückkopplungssignals erzeugt wird.</p> |
