发明名称 |
Verfahren zur Messung der Hochspannungsdegradation von zumindest einer Solarzelle oder eines Photovoltaik-Moduls sowie dessen Verwendung |
摘要 |
Verfahren zur Messung der Hochspannungsdegradation (PID) von zumindest einer Solarzelle oder eines Photovoltaik-Moduls, dadurch gekennzeichnet, dass ein leitfähiger Kunststoff (1) vollflächig auf die Vorderseite der jeweiligen Solarzelle (4) bzw. des Photovoltaik-Moduls (8) gedrückt wird und eine elektrische Spannung zwischen dem leitfähigen Kunststoff (1) und der jeweiligen Solarzelle (4) bzw. der Solarzell-Matrix im Photovoltaik-Modul angelegt wird. |
申请公布号 |
DE102011051112(B4) |
申请公布日期 |
2015.01.08 |
申请号 |
DE20111051112 |
申请日期 |
2011.06.16 |
申请人 |
FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V. |
发明人 |
NAGEL, HENNING |
分类号 |
G01R31/00;G01R31/26;H01L21/66;H01L31/18 |
主分类号 |
G01R31/00 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|