发明名称 Verfahren zur Messung der Hochspannungsdegradation von zumindest einer Solarzelle oder eines Photovoltaik-Moduls sowie dessen Verwendung
摘要 Verfahren zur Messung der Hochspannungsdegradation (PID) von zumindest einer Solarzelle oder eines Photovoltaik-Moduls, dadurch gekennzeichnet, dass ein leitfähiger Kunststoff (1) vollflächig auf die Vorderseite der jeweiligen Solarzelle (4) bzw. des Photovoltaik-Moduls (8) gedrückt wird und eine elektrische Spannung zwischen dem leitfähigen Kunststoff (1) und der jeweiligen Solarzelle (4) bzw. der Solarzell-Matrix im Photovoltaik-Modul angelegt wird.
申请公布号 DE102011051112(B4) 申请公布日期 2015.01.08
申请号 DE20111051112 申请日期 2011.06.16
申请人 FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V. 发明人 NAGEL, HENNING
分类号 G01R31/00;G01R31/26;H01L21/66;H01L31/18 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人
主权项
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