发明名称 一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列的装置
摘要 本实用新型公开了一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列装置,包括:铅准直体、吸收体阵列、光电探测器,在铅准直体内部有一排孔,一排孔的前部分为准直孔,用于放置吸收体阵列,一排孔的后部分为光电探测器安置孔,用于安装光电探测器,准直孔和光电探测器安置孔是共轴且相连的,但是孔直径大小不一样,吸收体阵列与光电探测器是紧挨着放置;X射线通过准直孔同时被内置的吸收体阵列部分衰减,出射的X射线被光电探测器探测到。本实用新型集准直孔、吸收体、探测器安置于一体,采用等能量间隔的设计原则,使得测量的一组数据比较离散,相互影响小,从而解谱更精确。
申请公布号 CN204086560U 申请公布日期 2015.01.07
申请号 CN201420536279.0 申请日期 2014.09.17
申请人 中国科学技术大学 发明人 阴泽杰;蒋春雨;曹靖;杨青巍
分类号 G01T1/36(2006.01)I;G01T1/40(2006.01)I 主分类号 G01T1/36(2006.01)I
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人 成金玉;孟卜娟
主权项 一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列装置,其特征在于包括:铅准直体(1)、吸收体阵列(4)、光电探测器(5),在铅准直体(1)内部有一排孔,一排孔的前部分为准直孔(2),用于放置吸收体阵列(4),一排孔的后部分为光电探测器安置孔(3),用于安装光电探测器(5),准直孔(2)和光电探测器安置孔(3)是共轴且相连的,但是孔直径大小不一样,吸收体阵列(4)与光电探测器(5)是紧挨着放置;X射线通过准直孔(2)同时被内置的吸收体阵列(4)部分衰减,出射的X射线被光电探测器(5)探测到。 
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