发明名称 一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列
摘要 一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列,由不同长度的吸收体构成,所述不同长度的吸收体的设计原则为等能量间隔衰减原则,即当入射的X射线能量在被测能量范围内是均匀分布时,经过吸收体阵列衰减后,出射的X射线的能量衰减是等间隔的。本实用新型的优点是数据之间彼此离散,串扰减小,解谱精度提高。
申请公布号 CN204086559U 申请公布日期 2015.01.07
申请号 CN201420536276.7 申请日期 2014.09.17
申请人 中国科学技术大学 发明人 阴泽杰;蒋春雨;曹靖;杨青巍
分类号 G01T1/36(2006.01)I;G01T1/40(2006.01)I 主分类号 G01T1/36(2006.01)I
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人 成金玉;孟卜娟
主权项 一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列,其特征在于:所述吸收体阵列由一系列圆柱形的不同长度的吸收体构成一个阵列,圆柱形的不同长度的吸收体的轴平行排列;所述不同长度的吸收体的设计原则为等能量间隔衰减原则,即当入射的X射线能量在被测能量范围内是均匀分布时,经过吸收体阵列衰减后,出射的X射线的能量衰减是等间隔的。
地址 230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号