发明名称 |
一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列 |
摘要 |
一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列,由不同长度的吸收体构成,所述不同长度的吸收体的设计原则为等能量间隔衰减原则,即当入射的X射线能量在被测能量范围内是均匀分布时,经过吸收体阵列衰减后,出射的X射线的能量衰减是等间隔的。本实用新型的优点是数据之间彼此离散,串扰减小,解谱精度提高。 |
申请公布号 |
CN204086559U |
申请公布日期 |
2015.01.07 |
申请号 |
CN201420536276.7 |
申请日期 |
2014.09.17 |
申请人 |
中国科学技术大学 |
发明人 |
阴泽杰;蒋春雨;曹靖;杨青巍 |
分类号 |
G01T1/36(2006.01)I;G01T1/40(2006.01)I |
主分类号 |
G01T1/36(2006.01)I |
代理机构 |
北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 |
代理人 |
成金玉;孟卜娟 |
主权项 |
一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列,其特征在于:所述吸收体阵列由一系列圆柱形的不同长度的吸收体构成一个阵列,圆柱形的不同长度的吸收体的轴平行排列;所述不同长度的吸收体的设计原则为等能量间隔衰减原则,即当入射的X射线能量在被测能量范围内是均匀分布时,经过吸收体阵列衰减后,出射的X射线的能量衰减是等间隔的。 |
地址 |
230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号 |