发明名称 源极局域互连结构的形成方法
摘要 本发明提供一种源极局域互连结构的形成方法,包括以下步骤:步骤S01:提供一半导体衬底,在衬底上依次形成层间介质层、底部抗反射涂层以及第一掩膜层,第一掩膜层具有界定通孔的第一开口;步骤S02:形成暴露出所述衬底的通孔;步骤S03:去除第一掩膜层以及底部抗反射涂层;步骤S04:形成填充层以及第二掩膜层,第二掩膜层具有界定沟槽的第二开口;步骤S05:形成沟槽;步骤S06:去除第二掩膜层以及填充层,填充金属材料,形成源极局域互连结构。本发明最终形成一种上端为沟槽、下端为通孔的源极局域互连结构,该结构避免了沟槽与STI结构接触,解决了在刻蚀过程中STI结构损耗过多,导致衬底漏电和击穿电压不足的问题。
申请公布号 CN104269378A 申请公布日期 2015.01.07
申请号 CN201410491497.1 申请日期 2014.09.24
申请人 上海华力微电子有限公司 发明人 李程;吴敏;杨渝书;秦伟;高慧慧
分类号 H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L21/768(2006.01)I
代理机构 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人 吴世华;林彦之
主权项 一种源极局域互连结构的形成方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S01:提供一半导体衬底,在所述衬底上依次形成层间介质层、底部抗反射涂层以及第一掩膜层,所述第一掩膜层具有界定通孔的第一开口;步骤S02:沿所述第一开口对所述底部抗反射涂层以及层间介质层刻蚀,以形成暴露出所述衬底的通孔;步骤S03:去除所述第一掩膜层以及底部抗反射涂层;步骤S04:在所述通孔内填充有机物并覆盖所述层间介质层,以形成填充层;在所述填充层上形成第二掩膜层,所述第二掩膜层具有界定沟槽的第二开口;步骤S05:沿所述第二开口对所述填充层以及层间介质层刻蚀,以形成沟槽;其中,所述沟槽的底部位于所述层间介质层中;步骤S06:去除第二掩膜层以及填充层,在上端为沟槽、下端为通孔的结构内填充金属材料,以形成源极局域互连结构。
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