涂覆的切削工具

摘要

一种涂覆的切削工具，其包含基材和涂层，其中所述涂层包含一个MTCVD TiCN层和一个α-Al₂O₃层，其中所述α-Al₂O₃层展示出使用CuKα辐射测量的X-射线衍射图案，其中使用的(hkl)反射是(012)，(104)，(110)，(113),(116)，(300)，(214)和(0012)，和其中TC(0012)高于5，并且所述α-Al₂O₃的(0012)面的摇摆曲线峰的半峰全宽小于30°。

主权项

一种涂覆的切削工具，其包含基材和涂层，其中所述涂层包含：一个MTCVD TiCN层，和一个α‑Al₂O₃层，其中所述α‑Al₂O₃层展示出使用CuKα辐射和θ‑2θ扫描测量的X‑射线衍射图案，其中根据Harris公式确定织构系数TC(hkl)$\mathrm{TC}\left(\mathrm{hkl}\right)=\frac{I\left(\mathrm{hkl}\right)}{I_0\left(\mathrm{hkl}\right)}{\left[\frac{1}{n}\underset{n=1}{\overset{n}{\Sigma }}\frac{I\left(\mathrm{hkl}\right)}{I_0\left(\mathrm{hkl}\right)}\right]}^{-1}$其中I(hkl)＝所述(hkl)反射的测量强度(积分面积)，I₀(hkl)＝根据ICDD的PDF卡号00‑010‑0173的标准强度，n＝在所述计算中使用的反射的数量，使用的(hkl)反射是(012)，(104)，(110)，(113)，(116)，(300)，(214)和(0012)，并且其中TC(0012)高于5，优选高于6，最优选高于7，和其中使用X‑射线衍射在所述切削工具的间隙面上测量，所述α‑Al₂O₃的(0012)面的摇摆曲线峰的半峰全宽(FWHM)是小于30°，优选小于26°，更优选小于22°的FWHM，和其中所述TiCN层展示出使用CuKα辐射测量的X‑射线衍射图案，其中在220峰的积分面积强度和311峰的积分面积强度之间的关系，I₂₂₀/I₃₁₁，为低于3，优选低于2，最优选低于1。