发明名称 扫描测试电路
摘要 一种扫描测试电路,包含有功能路径、测试路径及三态反相器。功能路径包含有D型锁存器,用来接收输入以及产生输出,所述D型锁存器包含有反馈节点,且所述D型锁存器是由根据系统时钟信号所产生的脉冲所驱动;测试路径包含有扫描锁存器,用来根据测试使能信号接收测试输入并产生输出,且扫描锁存器是由测试时钟信号所驱动;三态反相器耦接至测试路径以及功能路径。其中,测试路径的输出被输入至D型锁存器的反馈节点以及三态反相器,且当测试使能信号被使能时,停止脉冲的产生。以上所述的扫描测试电路能够达到时序上快速输出数据并且同时降低电路的复杂度和功率消耗。
申请公布号 CN102914738B 申请公布日期 2014.12.31
申请号 CN201210252075.X 申请日期 2012.07.20
申请人 联发科技(新加坡)私人有限公司 发明人 迪米崔·派顿;池其辉;;约瑟夫·派克·盖斯乐
分类号 G01R31/3185(2006.01)I 主分类号 G01R31/3185(2006.01)I
代理机构 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 代理人 于淼;杨颖
主权项 一种扫描测试电路,包含有:功能路径,包含有:D型锁存器,用来接收输入以及产生输出,该D型锁存器包含有反馈节点,且该D型锁存器是由根据系统时钟信号所产生的脉冲所驱动;测试路径,包含有:扫描锁存器,用来根据测试使能信号来接收测试输入,以及产生输出,该扫描锁存器是由一测试时钟信号所驱动;以及三态反相器,耦接至该测试路径以及该功能路径;其中该测试路径的该输出被输入至该D型锁存器的该反馈节点以及该三态反相器,且当该测试使能信号被使能时,停止该脉冲的产生,其中,该D型锁存器包含有:第一反相器,用来接收该输入;传输门,耦接至该第一反相器,且由该脉冲所驱动;锁存三态反相器,耦接至该传输门,该锁存三态反相器包含有该反馈节点,且由该脉冲来驱动;以及第二反相器,耦接至该锁存三态反相器,用来产生该输出;以及该测试路径包含有:第一测试反相器,用来接收该测试输入;第一传输门,耦接至该第一测试反相器,且由该测试时钟信号来驱动;第二测试反相器,耦接至该第一传输门;三态缓冲器,耦接至该第二测试反相器,且由该测试时钟信号来驱动;以及第二传输门,并联耦接至该第一传输门以及耦接至该三态缓冲器,且由该测试时钟信号来驱动,用来产生该输出至该三态反相器以及该功能路径的该反馈节点。
地址 新加坡启汇城大道一号索拉斯大厦三楼之一