发明名称 测试分选机
摘要 本实用新型提供一种测试分选机,包括机架,依次安装于机架上的自动入料机构、测试机构、分选机构及自动收料机构;所述机架设有入料操作台及分选操作台,所述分选操作台由上往下设置,自动入料机构通过减振垫固定在入料操作台上;所述测试机构安装于所述分选操作台上,包括导轨、分离器、测试传感器、测试头,所述导轨与自动入料机构和自动收料机构相连接,所述分离器设于测试头上方;所述分选机构安装于所述分选操作台上,包括分选分料梭、落料管、分选传感器、不良品装置,所述不良品装置远离导轨设置,通过落料管与所述分料梭相连接,所述分选传感器设于所述不良品装置的上方;所述测试机构包括打标装置,所述打标装置设于所述测试头下方。
申请公布号 CN204052204U 申请公布日期 2014.12.31
申请号 CN201420358590.0 申请日期 2014.06.30
申请人 广东华冠半导体有限公司 发明人 刘春荣
分类号 B07C5/344(2006.01)I 主分类号 B07C5/344(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种测试分选机,其特征在于,包括机架,依次安装于机架上的自动入料机构、测试机构、分选机构及自动收料机构;所述机架设有入料操作台及分选操作台,所述分选操作台由上往下设置,自动入料机构通过减振垫固定在入料操作台上;所述测试机构安装于所述分选操作台上,包括导轨、分离器、测试传感器、测试头,所述导轨与自动入料机构和自动收料机构相连接,所述分离器设于测试头上方;所述分选机构安装于所述分选操作台上,包括分选分料梭、落料管、分选传感器、不良品装置,所述不良品装置远离导轨设置,通过落料管与所述分料梭相连接,所述分选传感器设于所述不良品装置的上方。
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