发明名称 电路板外层偏位的控制方法
摘要 本发明公开了一种电路板外层偏位的控制方法,该控制方法包括:确定通孔与外层焊盘或盲孔与外层焊盘的1、2……N个偏位影响因素;根据所述偏位影响因素确定其对位能力模型T,其中<img file="DDA0000561796570000011.GIF" wi="552" he="64" />1、2……N个偏位影响因素对应的影响数值分别为A、B……X;根据对位能力模型T值判断通孔或盲孔与外层焊盘的偏位能力是否满足要求;若对位能力模型T不能满足对位需求,调整1、2……N个对位影响因素中的一个或多个影响因素的数值,修正相应对位能力模型T,直到满足相应的对位要求。本控制方法通过对位能力模型计算出不同设备、不同定位方式下的对位能力,对比确定处最佳的对位制作流程,能够有效的指导电路板的生产制作。
申请公布号 CN104244590A 申请公布日期 2014.12.24
申请号 CN201410431719.0 申请日期 2014.08.28
申请人 广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司 发明人 张志强;谢添华;李志东
分类号 H05K3/00(2006.01)I 主分类号 H05K3/00(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 曾旻辉
主权项 一种电路板外层偏位的控制方法,其特征在于,该控制方法包括:确定通孔与外层焊盘或盲孔与外层焊盘的1、2……N个偏位影响因素;根据所述偏位影响因素确定其对位能力模型T,其中<img file="FDA0000561796540000011.GIF" wi="559" he="81" />1、2……N个偏位影响因素对应的影响数值分别为A、B……X;根据对位能力模型T值判断通孔或盲孔与外层焊盘的偏位能力是否满足要求;若对位能力模型T不能满足对位需求,调整1、2……N个对位影响因素中的一个或多个影响因素的数值,修正相应对位能力模型T,直到满足相应的对位要求。
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