发明名称 四线测试探针装置及其应用方法
摘要 本发明涉及一种四线测试探针装置,包括牵引机构、主体固定座、两个测试探针及光电传感器;两个测试探针分别设置于主体固定座的两侧,测试探针包括弹性支架及设置在弹性支架上的探头,其中一个测试探针的弹性支架上设有凸出的遮光块;光电传感器靠近设置有遮光块的测试探针的一侧开设有凹口,光电传感器具有由凹口的一侧发射向凹口的另一侧的对射光;其中,弹性支架在测试时产生变形,以使遮光块所遮挡的对射光的光量的产生变化,并通过光电传感器产生变化的输出电压,以控制测试探针施加在印刷电路板上的压力。上述四线测试探针装置能够有效控制与印刷电路板之间接触力的优点。同时还提供一种四线测试探针装置的应用方法。
申请公布号 CN104237579A 申请公布日期 2014.12.24
申请号 CN201410475371.5 申请日期 2014.09.17
申请人 深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司 发明人 谭艳萍;王星;翟学涛;杨朝辉;高云峰
分类号 G01R1/073(2006.01)I 主分类号 G01R1/073(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 何平
主权项 一种四线测试探针装置,用于对印刷电路板进行测试,其特征在于,包括:牵引机构;主体固定座,固定于所述牵引机构上,所述主体固定座能够在牵引机构的带动下运动;两个测试探针,分别设置于所述主体固定座的两侧,两个所述测试探针对称设置,所述测试探针包括固定于所述主体固定座上的弹性支架及设置在弹性支架上的探头,其中一个所述测试探针的弹性支架上设有凸出的遮光块;及光电传感器,设置于所述主体固定座上,并与所述牵引机构通信连接,所述光电传感器靠近设置有遮光块的所述测试探针的一侧开设有凹口,所述光电传感器具有由所述凹口的一侧发射向所述凹口的另一侧的对射光,所述光电传感器用于实时测量所接收到的所述对射光的光量,并产生随所述对射光的光量变化的输出电压;其中,所述遮光块能够伸入所述凹口并遮挡所述对射光,所述弹性支架在测试时产生变形,以使所述遮光块所遮挡的所述对射光的光量的产生变化,并通过光电传感器产生变化的输出电压,所述牵引机构根据所述输出电压的值控制所述测试探针施加在所述印刷电路板上的压力。
地址 518000 广东省深圳市南山区高新技术园北区新西路9号
您可能感兴趣的专利