发明名称 |
铝胚外型量测系统 |
摘要 |
一种铝胚外型量测系统,用以量测一个沿一预定路径移动的铝胚,该铝胚外型量测系统包含至少一扫描式量测装置,及一与该扫描式量测装置电连接的量测电脑。该扫描式量测装置包括一支架单元,及两个分别设置于该支架单元上的量测单元。所述量测单元具有一设置于该支架单元上的滑轨,及一能沿该滑轨移动的单点雷射测距仪。利用将精度较高的单点雷射测距仪,设置于该支架单元以位于该铝胚的两相反侧,不仅整体结构简单,也便于座标的整合,同时亦能提升量测精度。 |
申请公布号 |
TWI465684 |
申请公布日期 |
2014.12.21 |
申请号 |
TW102145166 |
申请日期 |
2013.12.09 |
申请人 |
中国钢铁股份有限公司 高雄市小港区中钢路1号 |
发明人 |
何秋谊;陈重楣;杨咏宜;陈彦廷;锺炳枢;林丰裕;方琮淦 |
分类号 |
G01B11/24 |
主分类号 |
G01B11/24 |
代理机构 |
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代理人 |
高玉骏 台北市松山区南京东路3段248号7楼;杨祺雄 台北市松山区南京东路3段248号7楼 |
主权项 |
一种铝胚外型量测系统,用以量测一个沿一预定路径移动的铝胚,该铝胚外型量测系统包含:至少一扫描式量测装置,包括一能相对该预定路径移动的支架单元,及两个分别设置于该支架单元上且位于该铝胚两相反侧的量测单元,所述量测单元具有一设置于该支架单元上的滑轨,及一能沿该滑轨移动以量测该铝胚的外型的单点雷射测距仪;以及一量测电脑,用以控制该支架单元与所述量测单元的单点雷射测距仪相对该预定路径移动。 |
地址 |
高雄市小港区中钢路1号 |