| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Messung optischer Eigenschaften flexibler Substrate mit mindestens einer Walze, wobei das Substrat in Kontakt mit mindestens einer Walzenoberfläche ist sowie zumindest einer Messeinrichtung und einer Auswerteeinrichtung mit der die Reflexion und Transmission gemessen wird. Die Aufgabe der Erfindung ist es, die erschwerte Auswertung von Messsignalen an hochreflektierenden Walzen zu beheben. Die Aufgabe wird vorrichtungs- und verfahrensseitig dadurch gelöst, dass eine Walzenoberfläche auf ihrem Umfang ein erstes Segment mit einem ersten Reflexionswert und ein zweites Segment mit einem zweiten Reflexionswert aufweist, wobei das erste Segment und das zweite Segment auf dem Umfang der Walzenoberfläche nebeneinander abwechselnd angeordnet sind. Es wird ein erster Reflexionswert in einem ersten Segment der Walzenoberfläche und ein zweiter Reflexionswert in einem zweiten Segment der Walzenoberfläche bestimmt, wobei das erste und das zweite Segment der Walzenoberfläche unterschiedliche Reflexionswerte aufweisen. |
