摘要 |
Verfahren (100) zum Regeln einer Einschweißtiefe (Eist) beim Verschweißen zweier Werkstücke (20a, 20b) mit den folgenden Schritten: – selektives Anordnen (102) eines Markerstoffs (24; 24') lokal zwischen den beiden Werkstücken (20a; 20b); – spektroskopisches Erfassen (106) eines elektromagnetischen Wellenspektrums (36), das während des Schweißprozesses (104) aus einer Schweißzone (28) emittiert wird; – Auswerten des elektromagnetischen Wellenspektrums (36) bei einer charakteristischen Spektrallinie (λM) des Markerstoffs (24; 24'); und – Regeln (110) der Einschweißtiefe (Eist) in Abhängigkeit von einer Intensität (I) der Spektrallinie (λM), wobei der Markerstoff (24; 24') als Bestandteil einer Beschichtung (26) auf einem der beiden oder auf beide Werkstücke (20a; 20b) aufgetragen wird, dadurch gekennzeichnet, dass als Beschichtung (26) eine Legierungsbeschichtung zum Vermeiden von Heißrissen eingesetzt wird. |