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Ein integrierter Schaltkreis (IC) mit Fotodetektor, aufweisend einen darin integrierten elektromagnetischen Interferenz (EMI) Sensor, wird zum Messen von EMI an dem Fotodetektor bereitgestellt. Das Integrieren des EMI Sensors in dem Fotodetektor-IC stellt sicher, dass der EMI Sensor in der Nähe des Fotodetektors ist, so dass irgendein EMI, das gemessen wird, tatsächlich EMI ist, der der Fotodetektor ausgesetzt ist. Die gemessene EMI kann dann aus einer Anzahl von Gründen verwendet werden, wie etwa das Bestimmen der Wurzelursache von Schaden in Schaltkreisen des Systems, um den Zeitpunkt zu bestimmen, bei dem ein EMI Event aufgetreten ist, oder eine Warnung einzuleiten, wenn eine Bestimmung ausgeführt wird, dass ein EMI Grenzwert erreicht worden ist. |
