基于晶体谐振器的光功率参数测量方法和装置

摘要

本发明公开了一种基于晶体谐振器的光功率参数测量方法和装置，包括晶体谐振器、起振电路和频率测量单元，起振电路的输入端与晶体谐振器的电极相连，起振电路的输出端与频率测量单元电连接，待测量光束入射在晶体谐振器的工作面；本发明的测量方法和装置在应用中将入射激光高反射，降低了对测量系统承受激光辐照能力的要求，可用于长时间出光条件下高能激光参数测量，在实施中将激光的功率转换为频率测量，利用现代频率测量技术具有的测量精度和分辨率高等特点，使其可满足不同功率条件下激光参数的测量，适用性强、动态范围大同时具有结构紧凑、工程化简单等特点。

主权项

一种基于晶体谐振器的光功率参数测量方法，其特征在于，包括以下步骤：[1]晶体谐振器起振，测量谐振频率本底值f0；[2]将功率为p1的稳定输出的标定光束入射至晶体谐振器工作面，测量得到谐振频率的峰值f1；[3]待测量光束入射至晶体谐振器的工作面，测量得到谐振频率值的峰值f；[4]待测量光束的光功率为：p=p1(f‑f0)/(f1‑f0)，其中p为待测量光束的光功率。