发明名称 采用金属基片制备垂直GaN基LED芯片的设备
摘要 本发明所公开的是一种采用金属基片制备垂直GaN基LED芯片的设备,包括计算机信息采集控制器、反应室、金属基片装料室、气相金属有机物供应装置、氮气和/或氢气和/或氨气供应装置、ECR等离子体源供应装置、真空度计量器、反射高能电子衍射仪与荧光屏相对组成的成像显示器,以其还包括磁场线圈支撑圆筒、光电报警器、法拉第筒、电子探针和直流偏压电源为主要特征,具有结构合理、镀膜质量好、工效高、所述芯片制备成本低等特点。
申请公布号 CN102751399B 申请公布日期 2014.12.17
申请号 CN201210247144.8 申请日期 2012.07.17
申请人 大连理工常州研究院有限公司 发明人 秦福文;林国强;刘勤华
分类号 H01L33/00(2010.01)I;H01J37/32(2006.01)I;C23C16/44(2006.01)I;C23C16/52(2006.01)I 主分类号 H01L33/00(2010.01)I
代理机构 常州市天龙专利事务所有限公司 32105 代理人 夏海初
主权项 一种采用金属基片制备垂直GaN 基LED芯片的设备,包括:一计算机信息采集控制器(29);一反应室(1);在反应室(1)内设有与反应室(1)同中心布置的可上下移动的机械式回转金属基片料台(5);金属基片料台(5)设有电加热装置(60);反应室(1)底部与抽真空设备(3)管路连接,通过抽真空设备(3)可令反应室(1)内形成负压;一包括装料门(26)在内的金属基片装料室(2);所述金属基片装料室(2)的一端设有磁动/气动送料装置(4),而其另一端通过与计算机信息采集控制器(29)电连接的磁动控制阀(2‑1)与反应室(1)密封连接贯通;驱动磁动/气动送料装置(4)的送料杆(4‑1)和与计算机信息采集控制器(29)电连接的磁动机械手(27),可将金属基片输送至所述金属基片料台(5)的台面上;一气相金属有机物供应装置(21);所述气相金属有机物供应装置(21)的上游,与气相金属有机物混合配制装置(YP)的气相金属有机物混气室(47)管路连接,而其下游与设在所述金属基片料台(5)上方的具有若干个沿圆周方向分开布置的供气孔的供气环(21‑1)管路连接;一氮气和/或氢气和/或氨气供应装置(56);所述氮气和/或氢气和/或氨气供应装置(56)的上游,与氮气和/或氢气和/或氨气混合配制装置(DQ)的氮气/氢气/氨气混合室(54)管路连接,而其下游与反应室(1)管路连接;一微波电子回旋共振ECR等离子体源供应装置(6);所述电子回旋共振ECR等离子体源供应装置(6)包括微波源(14),与微波源(14)连接贯通的波导管(15),可调长度的微波耦合天线(16)和在反应室(1)的顶上设有与反应室(1)同中心布置的圆筒形谐振腔(17);所述谐振腔(17)所包括的由若干个永磁铁(19‑1)排列组成的永磁铁环(19)的内腔设有石英杯(20);真空度计量器(8)和用来检测金属基片表面镀层微结构信息的由反射高能电子衍射仪(10)与荧光屏(11)相对组成的视屏显示装置;所述计算机信息采集控制器(29),还分别与微波源(14)、真空度计量器(8)、电加热装置(60)的温度传感器(60‑1)、反射高能电子衍射仪(10)和荧光屏(11)电信号连接;且还分别与磁动/气动送料装置(4)的控制件、金属基片料台(5)的机械式回转及上下移动电机控制件、气相金属有机物供应装置(21)的各路质量流量控制器及终端供气电磁阀、氮气和/或氢气和/或氨气供应装置(56)的各路质量流量控制器电连接;通过计算机信息采集控制器(29),实时对磁动/气动送料杆(4‑1)的进出运动、金属基片料台(5)的转速和上下移动距离、微波源(14)的输出功率和时间、电加热装置(60)的温度和加热时间、以及对反应室(1)所供应的气相金属有机物的供气量和供气时间、氮气和/或氢气和/或氨气的供气量和供气时间实施自动调控;其特征在于:还包括:一磁场线圈支撑圆筒(22);所述支撑圆筒(22)布置在谐振腔(17)的底部,且与反应室(1)的顶部法兰连接,在支撑圆筒(22)内部设有线圈绕组(22‑1);所述气相金属有机物供应装置(21)的供气环(21‑1),设在所述支撑圆筒(22)内;所述线圈绕组(22‑1)的电流控制和得失电磁动开关与计算机信息采集控制器(29)电连接;一光电报警器(9);所述光电报警器(9)设在谐振腔(17)部位,且与计算机信息采集控制器(29)电连接;用其提供谐振腔(17)内的所述电子回旋共振ECR等离子体放电熄火报警及自动恢复放电功能;一法拉第筒(12);所述法拉第筒(12)设置在反应室(1)的顶部,且与计算机信息采集控制器(29)电连接,法拉第筒(12)的探头设置在磁场线圈支撑圆筒(22)的内侧,且靠近金属基片料台(5)的边缘,以准确测控金属基片料台(5)附近的所述电子回旋共振ECR等离子体的离子温度和密度;一电子探针(13);所述电子探针(13)设置在反应室(1)的顶部,且与计算机信息采集控制器(29)电连接,电子探针(13)的探头设置在磁场线圈支撑圆筒(22)的内侧,且靠近金属基片料台(5)的边缘,以准确测控金属基片料台(5)附近的所述电子回旋共振ECR等离子体的电子温度和密度;一直流偏压电源(57);所述直流偏压电源(57)与金属基片料台(5)电连接,且其输出电路磁动开关与计算机信息采集控制器(29)电连接,用以提高金属基片表面入射反应离子的通量和能量;所述氮气和/或氢气和/或氨气供应装置(56)输送管路的下游与反应室(1)的顶部法兰连接,且由设在石英杯(20)敞口端的沿圆周方向设有若干通孔的第二供气环(56‑1)直接通入石英杯(20)内;所述反射高能电子衍射仪(10)出射的电子束,位于所述支撑圆筒(22)的下方且与金属基片表面相贴近。
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