高速测试电路与方法

摘要

本发明提出一种高速测试电路与方法。该高速测试电路接收自一测试仪而来的测试仪频率，并对一待测电路进行测试，此高速测试电路包含：一倍频电路，其接收自该测试仪频率，产生N倍频率的频率输出，其中N为正实数；一测试频率产生器，其根据倍频电路的输出及测试仪频率，产生一测试频率，此测试频率在低频与高频之间切换；一测试讯号产生器，其根据该测试频率而操作，此测试讯号产生器产生测试讯号，以供传送给待测电路；以及一比较电路，其根据待测电路对测试讯号的响应讯号，产生比对结果，其中，此高速测试电路在高频测试频率下对待测电路进行高速测试，而在低频测试频率下执行低速动作。

主权项

一种高速测试电路，其接收自一测试仪而来的测试仪频率，并对一待测电路进行测试，其特征在于，包含：一倍频电路，其接收该测试仪频率，产生N倍频率的频率输出，其中N为正实数；一测试频率产生器，其根据倍频电路的输出及测试仪频率，产生一测试频率，此测试频率在低频与高频之间切换；一测试讯号产生器，其根据该测试频率而操作，此测试讯号产生器产生测试讯号，以供传送给待测电路；以及一比较电路，其根据待测电路对测试讯号的响应讯号，产生比对结果，其中，此高速测试电路在高频测试频率下对待测电路进行高速测试，而在低频测试频率下执行低速动作。