发明名称 |
半导体装置之制造方法;METHOD OF MANUFACTURING A SEMICONDUCTOR DEVICE |
摘要 |
系具备有:在半导体基板上依序形成绝缘膜、第1材料膜之工程;和在第1材料膜上形成具有矩形的第1开口之遮罩膜之工程;和将遮罩膜作为遮罩而对于第1材料膜进行乾蚀刻,以在第1材料膜上形成于第1方向上具有短边之椭圆形的第2开口之工程。形成遮罩膜之工程,系包含有:形成具有与第1开口之第1方向相对向之侧面的第2材料膜和具有与第1开口之第2方向相对向之侧面的第3材料膜之工程,第3材料膜之厚度,系较第2材料膜之厚度更厚。 |
申请公布号 |
TW201448175 |
申请公布日期 |
2014.12.16 |
申请号 |
TW103102480 |
申请日期 |
2014.01.23 |
申请人 |
PS4卢克斯科公司 |
发明人 |
前川厚志 |
分类号 |
H01L27/115(2006.01);H01L21/336(2006.01) |
主分类号 |
H01L27/115(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
<name>林志刚</name> |
主权项 |
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地址 |
卢森堡 |