发明名称 半导体装置之制造方法;METHOD OF MANUFACTURING A SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 系具备有:在半导体基板上依序形成绝缘膜、第1材料膜之工程;和在第1材料膜上形成具有矩形的第1开口之遮罩膜之工程;和将遮罩膜作为遮罩而对于第1材料膜进行乾蚀刻,以在第1材料膜上形成于第1方向上具有短边之椭圆形的第2开口之工程。形成遮罩膜之工程,系包含有:形成具有与第1开口之第1方向相对向之侧面的第2材料膜和具有与第1开口之第2方向相对向之侧面的第3材料膜之工程,第3材料膜之厚度,系较第2材料膜之厚度更厚。
申请公布号 TW201448175 申请公布日期 2014.12.16
申请号 TW103102480 申请日期 2014.01.23
申请人 PS4卢克斯科公司 发明人 前川厚志
分类号 H01L27/115(2006.01);H01L21/336(2006.01) 主分类号 H01L27/115(2006.01)
代理机构 代理人 <name>林志刚</name>
主权项
地址 卢森堡